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TLV5626CDRG4
TLV5626CDRG4

TLV5626CDRG4

TLV5626CDRG4,8位1us 双路 DAC，具有串行输入、可编程内部参考和稳定时间,由TI原厂生产,SOIC-8封装,参数为:分辨率:8 Bit,转换速率:278 Ksps,架构:Resistor-String,数字接口类型:Serial (3-Wire, SPI, QSPI, Microwire),DAC通道数:2,每芯片输出:2,输出类型:Voltage,信噪比:57(Typ) dB,满量程误差:0.6 % of FSR,积分非线性误差:1 LSB,最大稳定时间:5.5 us,是否抗辐射:No,工作温度范围:0 to 70℃,库存实时更新.咨询购买请致电:0755-83897562

  • Description：8-Bit, 1 us Dual DAC, Serial Input, Pgrmable Int. Ref., Settling Time
  • 品牌：TI
  • 封装：SOIC-8
  • 描述：8位1us 双路 DAC，具有串行输入、可编程内部参考和稳定时间
  • DataSheet：数据手册 pdf

电气特性 Features

  • 分辨率：8 Bit
  • 转换速率：278 Ksps
  • 架构：Resistor-String
  • 数字接口类型：Serial (3-Wire,SP,QSPI,Microwire)
  • DAC通道数：2
  • 每芯片输出：2
  • 输出类型：Voltage
  • 信噪比：57(Typ) dB
  • 满量程误差：0.6 % of FSR
  • 积分非线性误差：±1 LSB
  • 最大稳定时间：5.5 us
  • 是否抗辐射：No
  • 工作温度范围：0 to 70℃
  • Description：8-Bit, 1 us Dual DAC, Serial Input, Pgrmable Int. Ref., Settling Time
  • 品牌：TI
  • 封装：SOIC-8
  • 描述：8位1us 双路 DAC，具有串行输入、可编程内部参考和稳定时间
  • DataSheet：数据手册 pdf

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